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TDK電容的容量和耗散因數(shù)測試是電路設計中非常重要的一步。在進行精確的測試時，合理的儀表設置可以極大地影響測試結果的準確性。本文河南TDK總代理智成電子小編將介紹TDK電容的容量和耗散因數(shù)測試的關鍵在于儀表設置，并探討如何實現(xiàn)精準的測試。

正確測量電容値和耗散因數(shù)的關鍵是儀表設置（表1）。

表1：不同電容量范圍和類別類型的頻率和電壓設置

電壓設置對于高容値電容器來說是非常重要的。對于有些電容器儀表，對測試部件的印加電壓不足，因此電容値讀數(shù)偏低。

頻率設置也十分重要。由于電容量隨頻率而變化，行業(yè)標準指定了1MHz、1kHz或120Hz（表1）的測試頻率。

了解EIA class II電容器的老化現(xiàn)象也很重要。對于class II材料，電容量隨時間推移而減少1。因此，已接受的行業(yè)標準規(guī)定自上次加熱后1000小時電容量應處于偏差范圍內(nèi)(TOLH)2。

1. 何謂MLCC的老化？
2. IEC-384-9 （1988）, Appendix A

正確的儀表設置對于TDK電容的容量和耗散因數(shù)測試來說至關重要。在選擇和使用測試工具時，我們應該注重它們的準確性、精度和可靠性，以確保測試結果的準確性和可信度。而在購買TDK電容時，我們也應該選擇可靠的供應商，從源頭上保證電容的質量和性能。相信在正確的儀表設置和優(yōu)質的電容選擇下，您一定能夠在電路設計和應用中發(fā)揮出TDK電容的最佳性能，為您的工程帶來更多的價值和成就。

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